Автор: Пользователь скрыл имя, 12 Января 2012 в 10:58, реферат
Прокатка металлов, способ обработки металлов и металлических сплавов давлением, состоящий в обжатии их между вращающимися валками прокатных станов. Валки имеют большей частью форму цилиндров, гладких или с нарезанными на них углублениями (ручьями), которые при совмещении двух валков образуют т. н. калибры (см. Валки прокатные, Калибровка прокатных валков, Профилировка валков).
Разделение осуществляется
в две стадии: вначале пластины
скрайбируют, для чего риски наносят между
готовыми структурами по свободному полю
в двух взаимно перпендикулярных направлениях,
а затем разламывают по рискам на прямоугольные
или квадратные кристаллы. Операция разламывания.
Производится на специальном технологическом
оборудовании.
Качество скрайбирования
при механическом создании риски резцом
и последующей ломки в значительной степени
зависит от состояния рабочей части алмазного
резца. Работа резцов с изношенным режущим
ребром или вершиной приводит к сколам
при скрайбировании и некачественной
ломке. Обычно скрайбирование выполняют
резцами, изготовленными из натурального
алмаза, которые по сравнению с более дешёвыми
резцами из синтетических алмазов имеют
большую стойкость. Наибольшее распространение
получили резцы, имеющие режущую часть
в форме трёхгранной или усеченной четырёхгранной
пирамиды, режущими элементами которой
являются ребра пирамиды.
Средняя стойкость
резца (одного режущего ребра) при скрайбировании
кремния составляет 25-40 пластин диаметром
100 мм (3500 резов). После скрайбирования
25 - 40 пластин или при появлений сколов
на пластине резец необходимо проконтролировать
под микроскопом. Как показывает опыт,
применять резцы с износом режущего ребра
более 10-15 мкм нецелесообразно, так как
они не обеспечивают качественного скрайбирования.
Кроме того, при чрезмерном износе вершин
режущего ребра их восстановление при
переточке резца затруднено, к быстрому
износу резца приводит скрайбирование
пластин с покрытием из окисла кремния
или ионного диэлектрика. На таких пластинах
необходимо предусматривать специальную
(без покрытия) дорожку полупроводникового
материала шириной 50 - 75 мкм.
Широкое применение
нацию также лазерное скрайбирование
полупроводниковых пластин, при котором
надрез (риска) образуется не механическим,
а электрофизическим способом - путём
испарения узкой полосы полупроводникового
материала с поверхности пластины с помощью
сфокусированного лазерного пучка, имеющего
большую мощность излучения.
Скрайбирование лучом
лазера имеет большое преимущество перед
скрайбированием алмазным резцом: на рабочей
поверхности пластины не происходит образования
микротрещин и сколов вследствие отсутствия
механического контакта "режущего инструмента"
(лазерного луча) с полупроводниковым
материалом; скорость скрайбирования
может быть увеличена в несколько раз
(до 100 - 200 мм/с) благодаря тому, что луч
лазера всегда контактирует с поверхностью
пластины; возможно скрайбирование пластин
с любым, в том числе с диэлектрическим
покрытием; возможно не только скрайбирование
на различную глубину, но и сквозное разделение
пластины (без последующего разламывания
их на кристаллы).
Размеры риски - ширина
и глубина, зона термического влияния
лазерного луча, а также скорость
скрайбирования и равномерность удаления
материала по всей длине риски определяется
скоростью перемещения пластин относительно
лазерного луча, мощностью, частотой и
длительностью импульсов лазерного излучения,
а также размером сфокусированного пятна.
Современные установки
лазерного скрайбирования позволяют
получать риски шириной около 30 мкм и глубиной
не менее 50 мкм при скорости скрайбирования
свыше 50 - 100 мм/с. Зона термического воздействия
лазерного излучения составляет при этом
не более 50 - 75 мкм, включая ширину риски.
Скрайбирование на большую глубину, в
том числе сквозное разделение (на глубину
до 200 мкм), выполняют с меньшей скоростью
(5-10 мм/с).
К недостаткам лазерного
скрайбирования следует отнести большую
сложность и стоимость оборудования, а
также необходимость специальных мер
защиты рабочей поверхности от продуктов
лазерной обработки, образующихся в процессе
испарения материала под воздействием
лазерного излучения.
Разделение разламыванием.
Разламывание выполняется машинным
или ручным способом. Ручное разламывание
обычно позволяет получать больший
выход, чем машинное. Так как при
использовании многорезцовой
Линия реза коническим
алмазным резцом должна, быть очень
слабой, без следов образования узора
из трещин. Избыточная нагрузка на резец
проявляется в виде большого количества
отщеплённых кусочков пластины. Образующиеся
при этом трещины ц сколы образуют
картину, похожую на выпадение инея;
В зависимости от нагрузки такая
картина может возникнуть в процессе
скрайбирования либо сразу после него,
а иногда и нескольких часов спустя. В
результате при разламывании линия скола
Может начать распространяться вдоль
линии скрайбирования, но затем может
изменить направление и распространиться
вдоль любой из трещин. Поэтому необходимо,
чтобы между скрайбированием и разламыванием
проходило минимальное время.
Наиболее распространенными
являются методы разламывания проскрайбированных
пластин сферой, полуцилиндром и валиком.
Разламывание пластин
цилиндрических и сферических (Рисунок
3) опорах позволяет получать кристаллы
с соотношением сторон от 1: 1 до 1: 1,5. Радиус
кривизны сферы или полуцилиндра для различных
размеров кристаллов должен быть различным.
Более универсальным
является метод разламывания валиком
(Рисунок 4). Пластину помещают проскрайбированной
поверхностью на упругую опору и прокатывают
последовательно в двух взаимно перпендикулярных
направлениях твердым валиком диаметром
10 – 30 мм. Усилие нагружения подбирается
в зависимости от жесткости опоры. Меньший
диаметр валика и более жесткие опоры
используются при меньших отношениях
длины кристалла к толщине пластины (1/Н).
Рисунок 3. Схема пневмогидравлической
ломки полупроводниковых
а) - исходное положение;
б) - положение после разламывания.
При больших значениях
параметров отношения 1/Н вместо валика
применяют клин с небольшим радиусом
скругления, который последовательно
ориентируют по линиям скрайбирования
полупроводниковой пластины (Рисунок
5). Усилие нагружения при разламывании
клином должно быть программируемым.
Рисунок 4. Разламывание
пластины валиком.
Рисунок 5. Схема разламывания
клином.
Резка подложек. В
настоящее время для подложек
тонкоплёночных схем используемая керамика
с высоким содержанием окиси
алюминия, является слишком твёрдой
для обычного скрайбирования и разламывания.
Для резки керамических подложек применяется
распиливание алмазным диском, которое
состоит из четырёх основных этапов: закрепление
и ориентация подложки, распиливание,
демонтаж и очистка.
Закрепление и ориентация.
Подложки закрепляются на металлических
брусках, поддерживающих подложки в
результате распиливания. Для этого
они приклеиваются к брускам
с помощью гликольфталата при нагреве.
Для совмещения подложка помещается точно
по отношению к ограничителю на бруске
и потенциальная линия реза настраивается
параллельно прямоугольным краям бруска.
Затем брусок с наклеенной подложкой монтируется
на магнитном зажимном устройстве установки
для резания, В бруске делаются продольные
канавки, что позволяет вести резку подложки
насквозь, не задевая алмазным диском
металла.
Резка. Для операции
резания используется установка
для прецизионного резания с
магнитными зажимными устройствами.
На общей оси набирается несколько
алмазных дисков что обеспечивает получение
большого числа параллельных рёзов. Подгонка
расстояний между дисками осуществляется
с помощью металлических прокладок и клиньев
из пластмассы. Первоначальная настройка
бруска по отношению к дискам осуществляется
с помощью подгонки Поперечной подачи
столика. После этого предполагается,
что все бруски точно совмещены, если они
точно и надёжно устанавливаются по отношению
к упору магнитного зажимного устройства.
Для уменьшения времени настройки используются
два набора дисков, один из которых настраивается
для резки в одном направлении и другой
- в направлении, перпендикулярном к первому.
.
Обычно для получения
максимальной производительности требуются
высокие скорости резания. Выбор
конкретной скорости определяется следующими
факторами: число дисков на оси, размеры
и концентрация алмазных кристаллов
на диске, требуемое качество обработки
края подложки и желательный срок
службы Диска. Для получений чистых, близких
к полированным краев, применяется резка
при малой скорости с использованием дисков
с Мелкозернистыми алмазами с высокой
концентрацией покрытия. Увеличения размеров
частиц и скорости реза приводит к более
глубокой поверхности реза и в Пределе
может привести к появлению зазубрин и
растрескиванию.
Так как общие
размеры схемы должны точно выдерживаться
и края подложки должны быть в приемлемой
степени гладкими с минимальным
количеством зазубрин и трещин, для
использования в производстве необходимо
выбирать алмазные диски высшего
качества при скорости резки 100 - 200 об/мин.
Демонтаж и очистка.
После окончания резания по обоим
направлениям брусок с подложкой
снимают с магнитного зажимного
устройства и помещают в растворитель.
Когда клеящее вещество размягчится,
подложка снимается с бруска и
остатки клеящего вещества удаляются
путём дальнейшего отмачивания
в растворителе, например, в ацетоне.
ЛИТЕРАТУРА
Черняев В.Н. Технология
производства интегральных микросхем
и микропроцессоров. Учебник для
ВУЗов - М; Радио и связь, 2007 - 464 с:
ил.
Технология СБИС.
В 2 кн. Пер. с англ. /Под ред.С. Зи, -
М.: Мир, 2006. -786 с.
Готра З.Ю. Технология
микроэлектронных устройств. Справочник.
- М.: Радио и связь, 2001. -528 с.
Достанко А.П., Баранов В.В., Шаталов В.В. Пленочные токопроводящие системы СБИС. -Мн.: Выш. шк., 2000. -238 с.
Информация о работе Прокатка металлов и способы его разделения