Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n-перехода

Автор: Пользователь скрыл имя, 18 Января 2012 в 11:07, курсовая работа

Описание работы

Теоретической основой электроники являются современные представления физики твердого тела и физики полупроводников, объясняющие
сложные процессы, происходящие в различных полупроводниковых структурах
и в контактах различных типов полупроводников.
Целью данной курсовой работы является определение свойств полупроводников и характеристик p-n перехода.

Содержание

Введение………………………………………………………………………7
№1. Расчет температурной зависимости концентрации равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике…………..…………….…..…8
№2. Расчет температурной зависимости уровня Ферми в собственном полупроводнике…………………………………………………………………..…10
№3. Расчет температуры ионизации донорной примеси Тs и ионизации основного вещества Тi в полупроводнике n тока методом последовательных приближений………………………………………………………………………..11
№4. Расчет температуры ионизации Тs и Тi в акцепторном полупроводнике методом последовательных приближений…………………....13
№5. Расчет температурной зависимости положения уровня Ферми Ef(T) в донорном полупроводнике………………………………………………………...15
№6. Расчет критической концентрации вырождения донорной приме-си……………………………………………………………………………..19
№7. Расчет равновесной концентрации основных и неосновных носителей тока в p-n и n – областях p-n перехода при температуре Т=300К.....19
№8. Нахождение высоты потенциального барьера равновесного p-n-перехода и контактную разность потенциалов…………………………………..21
№9. Нахлждение положения уровней Ферми в p-n-перехода и n-областях относительно потолка зоны проводимости и дна валентной зоны соответствен-но……………………………………………………………………..21
№10. Нахождение толщины p-n-перехода в равновесном состоянии (Т=300К)………………………………………………………………………….....22
№11. Определение толщины пространственного заряда в p-n-областях..22
№12. Построение графика 5 «Энергетическая диаграмма p-n-перехода в равновесном состоянии»…………………………………………………………..23
№13. Нахождение максимальной напряженности электрического поля в равновесном p-n-переходе. Построение графика 6 «Зависимость напряженности электростатического поля от расстояния в p-n-переходе»….............................. 23
№14. Нахождение падение потенциала в p-n-областях пространственного заряда p-n-перехода………………………………………… ……………………24
№15. Построение графика 6 «Зависимость потенциала в p-n-областях от расстояния»………………………………………………………………………...25
№16. Вычисление барьерной емкости p-n-перехода в расчете на S=1 см²…………………………………………………………………………………...26
№17. Вычисление коэффициента диффузии для электронов и дырок ( в см²/с) и диффузионную длину для электронов и дырок………………………. 27
№18. Вычисление электропроводности и удельного сопротивления соб-ственного полупроводника, полупроводника n-и p-типа……………………28
№19. Определение величины плотности обратного тока p-n-перехода....29
№20. Построение обратной ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К………....30
№21. Построение прямой ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К…………...31
№22. Вычисление отношения jпр/jобри…………………………………. 32
Заключение……………………………………………………………….…34
Список литерату-ры………………………………………………….......................................……....35

Работа содержит 1 файл

Моя курсовая,,___________________.docx

— 292.34 Кб (Скачать)

Используем формулу:

Вычисляем:

7.  Расчет равновесной концентрации основных и неосновных носителей тока в p-n и n – областях p-n перехода при температуре Т=300К.  
 

   Положим, что примесь полностью ионизирована, будем считать nno и npo равным концентрации соответствующей примеси. Концентрация неосновных носителей найдем из закона действующих масс в см-3 и переведем в м-3. 
 

Используем формулы: 

Переводим из см-3 в м-3:

 

Вычисления:

 

8. Нахождение высоты потенциального барьера равновесного

p-n-перехода и контактной разности потенциалов.  

 
 
 
 
 

9. Нахождение положений уровня Ферми в p-n-перехода и n-областях относительно потолка зоны проводимости и дна валентной зоны. 

а) Найдем Efn

б) Найдем Efp

в) определим высоту потенциального барьера p-n-перехода (проверка правильности п.8) 

 

10. Нахождение толщины p-n-перехода в равновесном состоянии. (Т=300К) 

Вычисление:

 

11. Определение толщины пространственного заряда в p-n-областях. 

 
 
 
 
 
 

      

12.Энергетическая диаграмма p-n-перехода в равновесном состоянии. 

График 5

 

13. Нахождение максимальной напряженности электрического поля ε max  в равновесном p-n-переходе. 

 

График 6

Зависимость напряженности электростатического  поля от расстояния в         p-n-переходе

 

14.   Нахождение падения потенциала в p-n-областях пространственного заряда p-n-перехода. 

Расчетные формулы:

;                ;

  

Вычисления:

 

Сравним с полученным ранее значением  Vk:

 

15. По 5 значениям Хр через равные интервалы и вычислим 5 значений  . Зададим 5 значений Хn через равные интервалы и вычислить 5 значений .

               

Пример  вычислений:

 

Таблица 8

Результаты расчетов:

    1   2   3   4 5
xp*1E-7м   0,16520   0,3304052   0,495607889   0,660810519 0,8260
φp, В   0,001234   0,0049384   0,011111602   0,019753959 0,03086
xn*1E-7м   -1,6520   -3,30405   -4,9561   -6,6081 -8,26013
φn   -0,01234   -0,04938   -0,1111   -0,1975 -0,30863
 

График 7

 

16. Вычислим барьерную емкость p-n-перехода расчете на S=1 см² для трех случаев: 

а) равновесное  состояние p-n-перехода 

б) при обратном смещении, V=1 В

 

в) при прямом смещении, V=0,8 Vk 

Вывод: при прямом смещении барьерная ёмкость  увеличивается вследствие уменьшения d, а при обратном, наоборот - ёмкость уменьшается, а d растет.  

17. Вычисление коэффициента диффузии для электронов и дырок ( в см²/с) и диффузионной длины для электронов и дырок(в см) при Т=300 К 

Воспользуемся формулами:

 
 

Вычисления:

 
 
 

18. Вычисление электропроводности и удельного сопротивления собственного полупроводника, полупроводника n-и p-типа при Т=300 К. 

Используем формулы:

 

Вычисления:

 

Вывод: проводимостью неосновных носителей в легированных полупроводниках можно пренебречь по сравнению с проводимостью, обусловленной основными носителями; легированный полупроводник обладает в десятки раз большей электропроводностью.  

19. Определение величины плотности обратного тока p-n-перехода при Т=300 К в А/см² 

 

20. Построение обратной ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К. 

 

Пример вычисления: 

 
 

Результаты  расчетов:

Таблица 9

N   1 2 3 4   5 6
qV, Кл*В   4,2*1022 1,2*10-22 2,1*10-21 4,1*10-21   6,2*10-21 8,3*10-21
V,В   -0,0026 -0,0078 -0,013 -0,026   -0,039 -0,0517
j*10-7А   -0,9103 -2,479 -3,764 -6,047   -7,437 -8,271
7   8 9   10 11
1,3*10-20   1,7*10-20 2,1*10-20   2,5*10-20 8,3*10-20
-0,0776   -0,1032 -0,129   -0,155 -0,517
-9,0897   -9,3908 -9,501   -9,542 -9,566
       
 
 
 
 
 
 
 
 

График 8

Обратная ветвь ВАХ p-n-перехода при Т=300 К.

21. Построение прямой ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К. 

 

Пример вычисления:

 
 

Результаты расчетов:

Таблица 10

N   1 2 3 4   5 6
qV, Кл*В   4,2*1021 8,3*10-21 1,3*10-20 1,7*10-20   2,1*10-20 7,4*10-20
V,В   0,026 0,052 0,078 0,116   0,129 0,465
j*10-6А   1,643 6,117 1,826 8,515   14,101 62,802
 
 

График  9

Прямая  ветвь ВАХ p-n-перехода при Т=300 К.

 

22. Вычисление отношения jпр/jобр при и при

Формулы:

 
 

 

Вывод.

Коэффициент выпрямления зависит от подаваемого на переход напряжения: чем это напряжение больше, тем больше коэффициент выпрямления. 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

     Заключение:

В результате курсовой работы  установленная цель была достигнута: научился определять свойства полупроводников, получил информацию о зонной теории твердого тела и научился применять полученные знания на практике.  
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

Список  использованной литературы. 

1 .Основы микроэлектроники / И.И. Степаненко - М: Физматлит, 2001. 

2. Физические основы электронной техники / С.А.Фридрихов, С.М. Мовнин -1982. 

3. Физика полупроводников / К.В. Шадимова - М: Энергоиздат, 1985. 

     4. Лекции по ФОЭ / А.П. Дружинин. 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 
 
 
 
 

Информация о работе Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n-перехода