Станция "Аномальное рассеяние" в Новосибирске

Автор: Пользователь скрыл имя, 23 Декабря 2011 в 18:14, курсовая работа

Описание работы

Наиболее точным методом рентгеноструктурного анализа, с помощью которого расшифровано большинство известных сегодня структур, был и пока остается метод анализа рентгеновских дифрактограмм монокристаллов. Этот метод включает в себя две составляющие: рентгеновскую кристаллографию, то есть описание кристаллических структур по трехмерным наборам дифракционных данных от мононокристалла, и анализ распределения атомов в элементарной ячейке по геометрии и интенсивности рефлексов на этих дифракционных картинах, что обычно и называют рентгеноструктурный анализом (РСА).

Содержание

Ведение………………………………………………………………………….. 3
Суть рентгеноструктурного анализа
Применения СИ в рентгеноструктурном анализе монокристаллов
Структурные исследования с использованием аномальной дифракции
Многоволновая аномальная дифракция (МАД)
Экспериментальные станции для аномальной дифракции на СИ
Станция аномальной дифракции в Новосибирске
Заключение……………………………………………………………………… 38
Список используемой литературы………………

Работа содержит 1 файл

тимченко реферат.docx

— 124.62 Кб (Скачать)

 

Рисунок1. Схема станции «Аномальное Рассеяние».

Где 1 –  «белый» пучок СИ; 2 – входные  щели монохроматора; 3 – кристалл-монохроматор Si(111); 4 – шаговые двигатели гониометров  монохроматора и детектора; 5 –  ловушка прямого пучка (Та); 6, 7 –  входные щели дифрактометра; 8 –  рассеиватель; 9 – фрагмент вакумного  канала; 10 – выходное окно монохроматора (Ве); 11 – образец; 12 – фоновая  щель; 13 – кристалл-анализатор Ge(111); 14 – детектор; 15 – шаговый двигатель  анализатора; 16 – монитор входной  интенсивности; 17 – вертикальная подвижка.

Рисунок 2. Общий вид станции

Монохроматор  станции

     Для монохроматизации первичного «белого» пучка СИ используется кристалл кремния Si(111) с двукратным отражением в симметричной схеме. Степень монохроматизации определяется главным образом расходимостью  пучка СИ в вертикальной плоскости  ( и составляет при мрад и в рабочем диапазоне энергий фотонов приблизительно (3...7)*.

Детекторы станции

     На  станции допускается установка  сцинтилляционного детектора для  пошагового сканирования в режиме высокого пространственного разрешения и  беспараллаксного однокоординатного  детектора ОД-3-350 для быстрой регистрации  рентгенограмм в диапазоне углов  дифракции ~30 градусов. 
 

Список  исследований, проводимых на станции и участвующих  организаций:

  • Мезоструктурированные силикатные и элемент-силикатные материалы (Институт катализа СО РАН)
  • Структура и фазовый состав носителей и гетерогенных катализаторов (Институт катализа СО РАН)
  • Структурные особенности перовскитов переменного состава (Институт катализа СО РАН)
  • Процессы самораспространяющегося поверхностного термосинтеза оксидных катализаторов (Институт катализа СО РАН)
  • Структура и фазовый состав металлических катализаторов (Институт катализа СО РАН)
  • Рентгеновские зеркала, многослойная рентгеновская оптика (Институт ядерной физики СО РАН)
  • Структура и фазовый состав диффузионно-твердеющих сплавов (Институт химии твердого тела и механохимии СО РАН)
  • Структура и фазовый состав тонких пленок и BCN (Институт неорганической химии СО РАН)

Основные  технические параметры  станции:

  • Диапазон энергии рентгеновских квантов: 5 – 20 кэВ
  • Рентгенооптическая схема: Монохроматор двукратного отражения в симметричной схеме, Si(111), степень монохроматизации (3...7)*
  • Размер входного пучка: 5x(0.1–1.5)
  • Время набора дифрактограммы: от 0.2 до нескольких часов
  • Монитор: Сцинтилляционный детектор
  • Детектор: 1. Сцинтилляционный детектор; 2. Однокоординатный детектор ОД-3-350
  • Разрешение дифрактометра: ?d/d~в режиме высокого разрешения и ?d/d~в режиме однокоординатного детектора
  • Объекты исследования: Твердые вещества, порошковые материалы, монокристаллы, многослойные зеркала, тонкие пленки.
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

  Заключение 
 
 
 
 
 

Список  используемой литературы 

      1. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры  веществ. Фетисов Г.В. / Под редакцией  Л. А. Асланова. - М.: ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 672 с.
      2. [Электронный ресурс]. – Режим доступа http://ssrc.inp.nsk.su/CKP/stations/passport/2/, свободный. Загл. с экрана.

Информация о работе Станция "Аномальное рассеяние" в Новосибирске